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X光检测机
VERTEX X射线检测系统
VJ Electronix Vertex A系列功能强大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单精确的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。
苏州和谐电子技术有限公司
电话：梁小姐400-699-3936
系统基础参数
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型号 |
A-75 |
A-90 |
A-130 |
A-150 |
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光源 |
75kV |
90 kV |
130 kV |
150 kV |
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焦点大小 |
45μ |
5μ |
6μ |
5μ |
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空间分辨率 |
﹥10 lp/mm |
﹥40 lp/mm |
﹥40 lp/mm |
﹥40 lp/mm |
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总放大倍率-标配摄像头 |
﹥24X |
﹥130X |
﹥70X |
﹥60X |
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总放大倍率-高分辨率摄像头 |
﹥29X |
﹥240X |
﹥130X |
﹥110X |
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最大视野（可视最大区域） |
﹥2” |
﹥1.6” |
﹥2” |
﹥2” |
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编程能力 |
选配 |
标配 |
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设备尺寸 |
70” ×50” ×62”(D×W×H) （2000mm×1422mm×1575mm） |
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离轴防护：可用1或2个轴夹具； 检测范围：20” ×24”； 最大基板尺寸：20¼” ×24¼” |
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